远场暗室

根据天线测量距离的远近，天线的测量场地有近场测试暗室和远场测试暗室。 远场测试是指在直接测量待测天线的在远场数据。避免近场测试会由于多径效应和外界干扰等原因造成误差因此，在天线测量中远场测试往往更加可靠。用于满足远场测试的天线暗室称之为远场暗室。
远场暗室的设计，首先得确认如下指标：
  暗室的尺寸：一般指暗室内部有效空间尺寸，或屏蔽体的内尺寸
  静区：指暗室内杂波（含反射波、绕射和散射波）干扰最小的区域。 静区的大小和形状 与暗室的类型、工作频率、吸收材料特性、要求的反射电平有关。矩形暗室的静区是指在暗室的纵轴线上的圆柱体， 其静区直径可以用以下公式估 计：静区直径 D≥；R:满足远场条件的静区与源天线之间的距离；λ：是工作波长 从公式中可以看到静区尺寸随工作频率的上升而缩小
  反射率电平:反射率电平的定义是等效反射场与直接照射场之比。所谓等效反射场是指暗室内的杂波干扰场总和。暗室内任意点反射电平的大小与吸收材料的特性、暗室结构、收发天 线的方向性、频率、极化状态等多种因素有关。精确计算比较困难，一般通过实验来测定
  交叉极化特性：交叉极化是指电磁波在传输过程中，产生的与原极化特性相正交的极化分量之大小，它表征了电磁波的极化纯度。必须注意：这里所指的交叉极化特性与收发天线本身的交叉极化特性不同，前者由暗室（包括材料性能）的不对称引起的，后者则是由于天线加工精度不够造成的。通常用正交极性能优异的一对天线来测量暗室交叉极化特性的大小，为了保证一定的测试精度，源天线交叉极化隔离度应≥35dB，暗室该值一般为25dB左右